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产品展示/Product Display
GUT-6000B
- 产品型号：GUT-6000B
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GUT-6000B固纬数字IC测试仪/Flash烧录器产品特点
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚：28 pin
GUT-6000B固纬数字IC测试仪/Flash烧录器产品介绍
GUT-6000B 是一款台式数字IC测试仪。为了自动完成测试任务，GUT-6000B 包含自动搜索和循环测试等高端功能，以及智能化连续侦测坏损 IC 功能。自我诊断和过载保护功能使 GUT-6000B 更接近零维护，减少了用户不必要的麻烦。 GUT-6000B 可测试1800多种常见的TTL 和CMOS器件，真正在数字IC 测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
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测试范围 |
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54/74 系列 TTL |
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4000 及 4500 系列 CMOS |
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DRIVE |
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量测种类 |
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约 1800 种 |
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测试电压 |
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2.5/3.0/3.3/5V DC |
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测试时间 |
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高测试速度，平均 0.6 秒可完成一个 IC |
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使用电源 |
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交流 100V~240V +10% 50/60Hz |
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尺寸及重量 |
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |
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